कैपेसिटर डेटशीट में लीकेज करंट के लिए "CV" यूनिट क्या है?

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मैंने इलेक्ट्रोलाइटिक कैपेसिटर के लिए कुछ लीकेज करंट स्पेसिफिकेशन्स पर गौर किया है, और वे सभी इस तरह से मूल्य को निर्दिष्ट करते हैं:

I <0.01 CV या 3 (μA) 2 मिनट के बाद, जो भी अधिक हो

यहाँ कुछ उदाहरण datasheets हैं: पैनासोनिक , Multicomp , Nichicon , Rubycon ।

क्या मैं यह सोचने में सही हूं कि लीकेज करंट कैपेसिटेंस और वोल्टेज का एक उत्पाद है, अर्थात 5V सप्लाई पर capF कैप के लिए लीकेज करंट । $I = 0.01\times100µF\times5V=5\times10^{-6}A = 5µA$

या कि सीवी यूनिट कुछ पूरी तरह से अलग है?

इसके अतिरिक्त, क्यों इस रेटिंग के लिए लंबे समय की देरी जब एक संधारित्र आमतौर पर सेकंड या उससे कम में चार्ज करता है?

— बहुपद
स्रोत

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ध्यान दें कि C x V की वास्तविक इकाइयाँ "चार्ज" हैं, इसलिए इसे वर्तमान में बदलने के लिए "प्रति सेकंड" एक निहित है।

— डेव ट्वीड

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$\mu$ $\mu$ $\mu$ $\mu$

डेटा शीट की व्याख्या का सपा का # 1 नियम है:

यदि किसी युक्ति की दो तरह से व्याख्या की जा सकती है, और एक दूसरे की तुलना में बदतर है, तो एक खराब तरीका सही है।

इलेक्ट्रोलाइटिक कैप का वास्तविक रिसाव रेटेड मूल्य से बहुत कम या थोड़ा कम हो सकता है। संभावना है कि एक उच्च वोल्टेज संधारित्र दर्जा दिया जब मूल्यांकन किया वोल्टेज तुलना में काफी कम पर संचालित कम रिसाव होगा रहे हैं, लेकिन यह गारंटी नहीं है, और न ही यह जरूरी होगा पिछले संधारित्र लगातार मूल्यांकन किया वोल्टेज की तुलना में कम पर संचालित किया जाता है।

(अपेक्षाकृत) लंबा समय, निश्चित रूप से है, क्योंकि प्रारंभिक रिसाव कल्पना की तुलना में काफी अधिक हो सकता है और गारंटीकृत मूल्य को छोड़ने के लिए कुछ समय लग सकता है। ऐसा इसलिए है क्योंकि इलेक्ट्रोलाइटिक कैप में ढांकता हुआ वास्तव में etched एल्यूमीनियम प्लेटों पर एक बहुत, बहुत पतली ऑक्साइड परत है और यह पिनहोल आदि विकसित कर सकता है जो वोल्टेज लागू होने पर anodized हैं।

यहाँ संयुक्त केमिकॉन को रिसाव के बारे में क्या कहना है:

रिसाव करंट (DCL)

संधारित्र के ढांकता हुआ में बहुत अधिक प्रतिरोध होता है जो डीसी करंट के DC उल्लू को रोकता है। हालांकि, ढांकता हुआ में कुछ क्षेत्र हैं जो वर्तमान की एक छोटी राशि को पारित करने की अनुमति देते हैं, रिसाव रिसाव कहा जाता है। वर्तमान are ओव की अनुमति देने वाले क्षेत्र बहुत छोटे पन्नी अशुद्धता साइटों के कारण होते हैं जो सजातीय नहीं हैं, और इन अशुद्धियों पर गठित ढांकता हुआ एक मजबूत बंधन नहीं बनाता है। जब संधारित्र उच्च डीसी वोल्टेज या उच्च तापमान के संपर्क में होता है, तो ये बंधन टूट जाते हैं और रिसाव की धारा बढ़ जाती है। रिसाव वर्तमान भी निम्नलिखित कारकों द्वारा निर्धारित किया जाता है:

संधारित्र मूल्य

एप्लाइड वोल्टेज बनाम रेटेड वोल्टेज

पिछला इतिहास

लीकेज करंट कैपेसिटेंस के समानुपाती होता है और लागू वोल्टेज कम होने के साथ घटता जाता है। यदि संधारित्र को विस्तारित समय के लिए लागू वोल्टेज के बिना ऊंचा तापमान पर किया गया है, तो ऑक्साइड ढांकता हुआ का कुछ क्षरण हो सकता है जिसके परिणामस्वरूप एक उच्च रिसाव चालू होगा। आमतौर पर इस क्षति की मरम्मत की जाएगी जब वोल्टेज फिर से लगाया जाएगा

इस प्रकार का एक मजबूत 'गठन' प्रभाव आधुनिक भागों के साथ अपेक्षाकृत असामान्य है, और ऐसा लगता है कि पुराने दिनों में बहुत अधिक बार होता था जब उपयोग किए जाने से पहले कुछ समय के लिए भाग बैठे थे। हो सकता है कि आधुनिक इलेक्ट्रोलाइट बेहतर नियंत्रित या अधिक शुद्ध है, या परिरक्षक योजक है।

संपादित करें: नोट @ दवे की टिप्पणी कि 0.01 पैरामीटर की इकाइयां 1 / s होनी चाहिए।

— स्पेरो पेफेनी
स्रोत

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बहुत बढ़िया जवाब, धन्यवाद। यह डेटाशीट में जो मैंने देखा है, उसके साथ तालमेल लगता है जो स्पष्ट रूप से गुणांक प्रदान करने के बजाय प्रत्येक विशिष्ट मॉडल के लिए सूक्ष्म तरंगों में रिसाव वर्तमान प्रदान करता है।

— बहुपद

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लीकेज करंट प्लेट के क्षेत्र पर निर्भर करता है (इसलिए कैपेसिटेंस के समानुपाती होता है), या प्लेट सेपरेशन (इसलिए कैपेसिटेंस के आनुपातिक) और आनुपातिक वोल्टेज के विपरीत आनुपातिक होता है, इसलिए हां, लीकेज करंट सीवी के समानुपाती होता है।

इलेक्ट्रोलाइटिक कैपेसिटर में एक दिलचस्प 'लंबे समय तक स्थिर' होता है जो प्लेटों पर यांत्रिक आंदोलन और इलेक्ट्रोलाइट में ध्रुवीकरण प्रभाव दोनों से संबंधित है। यह एक बड़े इलेक्ट्रोलाइटिक कैपेसिटर को चार्ज करके सबसे प्रभावी ढंग से प्रदर्शित होता है, इसे कुछ मिनटों के लिए छोड़ देता है, इसे जल्दी से छुट्टी दे देता है, फिर अगले कुछ मिनटों में उच्च प्रतिबाधा वाले डीवीएम के साथ इसके वोल्टेज को देखता है। वोल्टेज 0 से उगता है, और मूल चार्ज वोल्टेज का आश्चर्यजनक रूप से बड़ा अंश प्राप्त कर सकता है। यह वोल्टेज-वसूली प्रयोग करने योग्य है, यदि केवल इलेक्ट्रोलाइटिक संधारित्र की गैर-आदर्शता को प्रदर्शित करने के लिए।

इसका मतलब यह है कि अगर हम एक बड़े इलेक्ट्रोलाइटिक में कम रिसाव वर्तमान को मापने की कोशिश कर रहे हैं, तो यह वोल्टेज में किसी भी बदलाव के बाद वोल्टेज की वसूली के प्रभाव से बह जाएगा। इसलिए, निर्दिष्ट 2 मिनट की देरी, जो निर्माता ने संभवतः माप त्रुटि के एक महत्वपूर्ण स्रोत के रूप में वोल्टेज वसूली को हटाने के लिए पर्याप्त पाया है।

— Neil_UK
स्रोत